机译:通过电子轰击减少V 2 sub> O 3 sub>(0001)表面 - 使用I / V-LEED进行定量结构测定
机译:通过电子轰击还原V2O3(0001)表面-使用I / V-LEED进行定量结构测定
机译:通过电子轰击还原V2O3(0001)表面-使用I / V-LEED进行定量结构测定
机译:V2O3(0001)的表面结构:I / V-LEED和STM研究
机译:用于表面结构测定的STM图像的定量分析:Re(0001)上的硫
机译:通过低能电子衍射确定过渡金属单晶表面上生长的晶体离子薄膜的表面结构。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:V 2 sub> O 3 sub>(0001)的表面结构 - 结合I / V-LEED + sTm研究
机译:用于表面结构测定的扫描隧道显微镜图像的定量分析:Re(0001)上的硫。